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谷物水分测定仪电路板抄板及样机克隆案例简介

[日期:2009-12-28] [来源:http://www.pcbcool.cn/] [作者admin] [点击:]

Pcb转实物之谷物水分测定仪
华创专业提供芯片解密、二次开发、样机调试,pcb反向设计等全套服务,可以为客户提供优质化的服务。谷物水分测定仪是公司受一客户委托成功进行二次开发而研制的产品之一,在遵守客户保密协议的前提下,将其功能及其特点详细介绍如下

谷物水分测定仪介绍:

LDS-1H粮食水分测定仪是LDS-ID型玉米水分测量仪的升级产品,性能更稳定可靠,拥有外观设计国家专利,外形新颖美观,完全能与国外同类产品媲美,是水分测量仪器理想的升级换代产品

谷物水分测定仪/粮食水分测定仪/玉米水分测量仪主要技术指标:
●测量对象:谷类、麦类、菜籽、大豆、蔬菜种子、玉米、饲料等非金属颗粒状物质
●测量误差:≤±0.5%(主要水分范围)
●重复误差:≤0.2%
●测量范围:3~35%
●使用环境温度:0~40℃
●温度补偿:自动
●定 标:浮动三点定标,品种不限(常见品种20个已预先定标,可直接测量,另外的可根据客户需要进行定标。)
●工作电源:直流6V(5号干电池四节)
●自动关机:
LDS-1H和LDS-1F谷物水分测定仪区别在于前者需要称量好被测物(150克),倒进测量桶内才能测定。LDS-1H本身带有称重系统,无需事先称重,能直接测定。

注:华创为遵守保密协议,现仅为您进行简要介绍,欲想了解更多情况,请速与我们联系!

 

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