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多角度激光光散射仪电路板抄板及芯片解密技术

[日期:2010-01-08] [来源:http://www.pcbcool.cn/] [作者admin] [点击:]

一流的核心团队,一流的市场布局成就了现在的华创,华创的反向技术研究,pcb抄板技术已经成功应用于数万件大中小型电子产品,并成功破译技术密码,实现了二次开发.有力的推动了PCB抄板行业的发展,是当之无愧的引导者,根据客户的需求不断有新品问世,多角度激光光散射(绝对分子量测定)仪就是众多成功案例中的一例,根据客户保密协议,现将部分技术参数告知如下:

一、多角度激光光散射(绝对分子量测定)仪优势

1.采用静态光散射的原理来表征聚合物的绝对分子量,是目前全世界公认的一种最行之有效的、最接近真实的方法。它的特点是更直接、更简单、更准确。

2. 采用35mW、635nm 的固体激光器作为光源,在7个角度同时测定散射光强随角度和浓度的变化,从而确定绝对分子量。

3.从Zimm图中可以得到重均分子量Mw, 均方根回旋半径Rg和第二维里系数A2。

4. : (1)用于单机测定Mw、Rg和A2,提供分子形状信息;(2)也可用于联机,即作为凝胶色谱的一个在线检测器,可以测定聚合物各个分布的Mw和Rg,并提供支化信息;(3)还可结合TDSLS配置,进行聚合过程动力学的研究、即实时监控聚合反应过程。

5.BI-MwA 可以附加NANODLS配置,从而兼具在流动状态下实时测量粒度及其分布的功能。

二、BI-MwA多角度激光光散射(绝对分子量测定)仪技术参数

1.分子量测量范围:500~109 Dalton
2.分子尺寸测量范围:10~1000nm
3.散射体积:20nL
4.体积:样品池100μL
5.背压:最大3.5MPa(500psi)
6.角度:8个,通常为35,50,75,90,105,130,145以及参比角(标配)
7.检测器:CCD,超高灵敏度

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