华创科技专业从事反向技术研究，测试设备领域是我们研发的重点，多年的实战经验让我们掌握了数百套测试设备的技术资料，并成功实现了二次开发，在测试系统抄板领域占据了极高的市场份额。华创科技研究部又传出好消息，比表面积测试仪成功的研究成功，根据客户保密协议，现将部分技术参数告知如下：

技术参数

比表面积测试仪特性参数如下：
测试方法与功能：BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积及孔径分布测试，直接对比法比表面积快速测定，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定， BJH比表面积及孔径分布测试、总孔体积和平均孔径测定；测试过程完全自动化，智能化，
测量范围：比表面积 ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 2~ 200nm ;
样品数量：2~4个；
测量精度：≤± 2% ；
流量控制：高精度小流量传感器，数字显示，精度 0.1ml / min （国内首创）
运行方式：全自动与半自动任选；
测试时间：直接对比法和单点BET法比表面积平均每个样品5分钟
多点BET法比表面积平均每个样品20分钟
孔径分布测试平均每个样品100分钟
软件系统：比表面积及孔径分布测试仪在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多功能可自由方便的转换，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附过程、脱附峰面积累计以及比表面积的测试结果；本机软件还具有修正、手工计算、分别出示测试报等功能，软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；
主要特点比表面积测试仪全自动化特点：
独特的氦/氮流量自动控制系统、定量体积氮气自动切入系统、热导检测器零点自动调整系统、液氮杜瓦瓶自动升降系统、热导池自动保护安全系统、软件功能相应充分扩展等。

华创已通过反向工程掌握该产品的技术资料，并可提供该产品的的PCB设计、PCB抄板、芯片解密、样机制作、样机调试等方面的服务，满足客户的需求。同时，我们会根据市场需求的变化和产品的更新换代，提升该产品的功能升级和扩展，为广大客户提供定制化服务，我们期待与广大客户真诚合作，详情请咨询华创商务中心联系。